数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计
暂无封面,等待上传

数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计

(美) 克拉茨 (Crouch,A.L.) , 著

出版社:机械工业出版社

年代:2006

定价:30.0

书籍简介:

本书介绍测试和可测试性设计基本概念。

书籍规格:

书籍详细信息
书名数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计站内查询相似图书
丛书名电子与电气工程丛书
9787111187066
如需购买下载《数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息,请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地北京出版单位机械工业出版社
版次1版印次1
定价(元)30.0语种简体中文
尺寸26装帧平装
页数 201 印数 4000

书籍信息归属:

数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计是机械工业出版社于2006.05出版的中图分类号为 TN431.2 ,TP368 的主题关于 数字集成电路-测试-设计 ,微计算机系统-测试-设计 的书籍。