出版社:机械工业出版社
年代:2006
定价:30.0
本书介绍测试和可测试性设计基本概念。
书籍详细信息 | |||
书名 | 数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计站内查询相似图书 | ||
丛书名 | 电子与电气工程丛书 | ||
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出版地 | 北京 | 出版单位 | 机械工业出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 30.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 26 | 装帧 | 平装 |
页数 | 201 | 印数 | 4000 |
数字集成电路与嵌入式内核系统可测性设计是机械工业出版社于2006.05出版的中图分类号为 TN431.2 ,TP368 的主题关于 数字集成电路-测试-设计 ,微计算机系统-测试-设计 的书籍。