互换性与测量基础
互换性与测量基础封面图

互换性与测量基础

黎传, 袁斌, 主编

出版社:华南理工大学出版社

年代:2008

定价:22.0

书籍简介:

本书内容包括形状和位置公差、尺寸极限与配合、表面粗造度、几何测量技术基础、几何量参数检测、几种结合件的公差设计、螺纹结合的互换性等。

书籍规格:

书籍详细信息
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丛书名21世纪高职高专机电类系列规划教材
9787562328384
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出版地广州出版单位华南理工大学出版社
版次1版印次1
定价(元)22.0语种简体中文
尺寸26装帧平装
页数 186 印数 3000

书籍信息归属:

互换性与测量基础是华南理工大学出版社于2008.08出版的中图分类号为 TG801 的主题关于 零部件-互换性-高等学校:技术学校-教材 ,零部件-测量-技术-高等学校:技术学校-教材 的书籍。