电子元器件失效与典型案例
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电子元器件失效与典型案例

孔学东, 恩云飞, 编著

出版社:国防工业出版社

年代:2006

定价:30.0

书籍简介:

本书讲述电子元器件失效与典型案例。

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书籍详细信息
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9787118046199
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出版地北京出版单位国防工业出版社
版次1版印次1
定价(元)30.0语种简体中文
尺寸26装帧平装
页数 240 印数

书籍信息归属:

电子元器件失效与典型案例是国防工业出版社于2006.07出版的中图分类号为 TN601 的主题关于 电子元件-失效分析 的书籍。