出版社:电子工业出版社
年代:2019
定价:79.0
本书共11章,系统地介绍了GD&T图纸的特点、基本术语和定义。本书详细阐述了GD&T的公差原则,24个公差修饰符号的使用,12个基本公差符号的定义、功能和检测,复合公差。本书采用国家(国际)最新标准作为依据,内容全面、文字简明、图表数据充实,采用了大量、详细的应用图例,力求增强可读性、易懂性和实用性。读者可以学习掌握传统坐标公差的缺点,12个几何公差的应用(尤其是位置度和轮廓度),独立组合位置度和复合位置度的区别,最大/最小实体原则(MMC/LMC)对产品图纸和成本的影响,实体原则应用在基准上对几何公差的影响,如何实现位置度和轮廓度的测量(包括CMM和功能检具),如何正确理解基准及怎样利用基准建立坐标系等。
书籍详细信息 | |||
书名 | GD&T几何公差入门与提高站内查询相似图书 | ||
9787121365379 如需购买下载《GD&T几何公差入门与提高》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息,请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN | |||
出版地 | 北京 | 出版单位 | 电子工业出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 79.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 26 × 19 | 装帧 | 平装 |
页数 | 印数 |