高速复杂互连的串扰故障测试技术
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高速复杂互连的串扰故障测试技术

尚玉玲, 李春泉, 著

出版社:西安电子科技大学出版社

年代:2017

定价:29.0

书籍简介:

本书系统、深入地介绍了高速复杂互连的串扰测试基本理论、原理、技术与方法,主要涉及三方面:高速复杂互连线串扰测试、高速复杂互连结构串扰测试、告诉互连通路串扰故障的ATPG技术。以非理想互联线的渐进式串扰故障、复杂拓扑结构的串扰故障测试技术为核心,论述了复杂互连线串扰测试方法;以过孔、球栅阵列焊点等为对象,论述了复杂互连结构信号传输性能分析等;以串扰尖峰脉冲及时延故障为对象,论述了高速互连通路串扰故障的ATPG技术。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787560646022
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出版地西安出版单位西安电子科技大学出版社
版次1版印次1
定价(元)29.0语种简体中文
尺寸23 × 19装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

高速复杂互连的串扰故障测试技术是西安电子科技大学出版社于2017.7出版的中图分类号为 TN911.4 的主题关于 码间串扰-故障检测 的书籍。