出版社:北京航空航天大学出版社
年代:2003
定价:
本书分为设计和测试两个部分,分别介绍SoC的设计方法和测试方法。在设计部分,介绍SoC设计与传统的ASIC设计流程的差别及会遇到的问题,逻辑核、存储器核及模拟核的设计方法和需要注意的问题以及SoC系统的验证方法。在测试部分,介绍SoC中逻辑核、存储器核及模拟核的测试结构与测试方法。
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出版地 | 北京 | 出版单位 | 北京航空航天大学出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 语种 | 简体中文 | |
尺寸 | 26 | 装帧 | 平装 |
页数 | 印数 |
SoC设计与测试是北京航空航天大学出版社于2003.08出版的中图分类号为 TP368.1 的主题关于 单片微型计算机-系统设计 的书籍。