SiC功率器件的封装测试与系统集成
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SiC功率器件的封装测试与系统集成

曾正, 著

出版社:科学出版社

年代:2020

定价:159.0

书籍简介:

SiC功率器件是电能变换的核心,是下一代电气装备的基础,在消费电子、智能电网、电气化交通、国防军工等领域,具有不可替代的作用。SiC功率器件的性能表征、封装测试和系统集成,具有重要的研究价值和应用前景。围绕SiC功率器件的基础研究和前沿应用,本书系统介绍了SiC功率器件的研究现状与发展趋势,分析了器件的电-热性能表征方法,阐述了器件的并联、串联、级联等扩容技术,介绍了器件的封装结构与封装工艺,给出了器件的多物理场模型和仿真方法,提出了器件的封装设计方法,总结了器件的封装失效机理,揭示了器件的并联电流分配规律,提出了器件的精确稳定测试方法,针对固态变压器、新能源汽车等新兴应用,构建了SiC功率器件的系统集成方法。本书是一本理论基础和工程实践相结合的专著,可作为高校电力电子技术及相关专业本科生、研究生和教师的参考书,也可供从事宽禁带器件研究的工程技术人员参考使用。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787030657008
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出版地北京出版单位科学出版社
版次1版印次1
定价(元)159.0语种简体中文
尺寸26 × 19装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

SiC功率器件的封装测试与系统集成是科学出版社于2020.9出版的中图分类号为 TN303 的主题关于 功率半导体器件 的书籍。