书籍简介:

本书是一本学术论著。大规模集成电路的可靠性是决定终端产品品质的重要因素。然而，IC生产集成度高、生产线封闭、一次性投入成本高，使得品质控制成为困扰电子企业的难题。本书切入IC可靠性研究的痛点，力图用小样本解决大问题，针对性强。书稿首先研讨了国内外相关的学术进展，分析了电路的失效机理，建立可靠性的评估模型，确定了研究思路。然后，结合数理统计方法，建立了IC的寿命预测模型，将小子样的分析原理、分析过程、分析效果逐一展开。知识布局层层推进，帮助读者建立了有关小子样可靠性分析的全景图。

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书籍详细信息
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	9787536160170 如需购买下载《小子样集成电路可靠性评估》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	广州	出版单位	广东高等教育出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	18.0	语种	简体中文
尺寸	26 × 18	装帧	平装
页数		印数

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书籍信息归属:

小子样集成电路可靠性评估是广东高等教育出版社于2018.1出版的中图分类号为 TN406 的主题关于集成电路－可靠性－评估的书籍。