出版社:科学出版社
年代:2010
定价:116.0
本书介绍了异质和纳米结构半导体的特性,同时讨论了最新的独特的创新的纳米工艺。全面描述了对异质/纳米结构性质进行表征的手段和方法。包括高分辨率X射线衍射技术、拉曼谱技术、X射线吸收精细结构等内容。
书籍详细信息 | |||
书名 | 半导体异质结构与纳米结构表征站内查询相似图书 | ||
9787030269690 如需购买下载《半导体异质结构与纳米结构表征》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息,请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN | |||
出版地 | 北京 | 出版单位 | 科学出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 116.0 | 语种 | 英文 |
尺寸 | 26 × 19 | 装帧 | 精装 |
页数 | 472 | 印数 |
半导体异质结构与纳米结构表征是科学出版社于2010.3出版的中图分类号为 TN304 的主题关于 半导体材料-异质结-英文 ,半导体材料:纳米材料-结构-英文 的书籍。