半导体异质结构与纳米结构表征
半导体异质结构与纳米结构表征封面图

半导体异质结构与纳米结构表征

(意) 兰伯蒂 (Lamberti,C.) , 著

出版社:科学出版社

年代:2010

定价:116.0

书籍简介:

本书介绍了异质和纳米结构半导体的特性,同时讨论了最新的独特的创新的纳米工艺。全面描述了对异质/纳米结构性质进行表征的手段和方法。包括高分辨率X射线衍射技术、拉曼谱技术、X射线吸收精细结构等内容。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787030269690
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出版地北京出版单位科学出版社
版次1版印次1
定价(元)116.0语种英文
尺寸26 × 19装帧精装
页数 472 印数

书籍信息归属:

半导体异质结构与纳米结构表征是科学出版社于2010.3出版的中图分类号为 TN304 的主题关于 半导体材料-异质结-英文 ,半导体材料:纳米材料-结构-英文 的书籍。