半导体异质结构与纳米结构表征

书籍简介:

本书介绍了异质和纳米结构半导体的特性，同时讨论了最新的独特的创新的纳米工艺。全面描述了对异质/纳米结构性质进行表征的手段和方法。包括高分辨率X射线衍射技术、拉曼谱技术、X射线吸收精细结构等内容。

书籍规格:

书籍信息归属:

半导体异质结构与纳米结构表征是科学出版社于2010.3出版的中图分类号为 TN304 的主题关于 半导体材料－异质结－英文 ,半导体材料：纳米材料－结构－英文 的书籍。