出版社:东北大学出版社
年代:2016
定价:25.0
本书以X射线衍射分析和电子显微分析为主,介绍了X射线衍射和电子显微分析的最新进展,主要涉材料分析测试技术-材料、X射线衍射与电子显微分析、电子衍衬分析原理与图谱、电子显微分析、X射线金属学、金属X射线衍射与电子显微分析技术等领域,具体包括X射线衍射及多晶体分析,物相分析,残余应力的测定,织构测定与分析,电子衍射,衍衬成像分析,扫描电镜与电子探针分析,材料测试新方法等8章内容。
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出版地 | 沈阳 | 出版单位 | 东北大学出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 25.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 26 × 19 | 装帧 | 平装 |
页数 | 印数 |