书籍简介:

本书介绍如何对电子元器件生产过程进行统计质量控制，包括实施SPC、Cpk和PPM技术的必要性、基本概念和方法，对元器件生产过程应用SPC和Cpk时出现的特殊问题和解决办法，重点在于帮助读者掌握如何解决实际应用中的问题。

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书名	统计过程控制与评价站内查询相似图书
丛书名	电子元器件质量与可靠性技术丛书
	9787121002045 《统计过程控制与评价》pdf扫描版电子书已有网友提供资源下载链接,请点击下方按钮查看
出版地	北京	出版单位	电子工业出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	30.0	语种	简体中文
尺寸	26	装帧	平装
页数		印数	5000

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统计过程控制与评价是电子工业出版社于2004.08出版的中图分类号为 TN6 的主题关于电子元件－生产过程－统计控制：质量控制的书籍。