书籍简介:

为使本领域专家学者及时了解国内同行研究成果，《抗核加固》期刊编委会于2012年出版了FPGA抗辐射加固技术研究专辑。专辑分上下册，共收录18篇文章，研究成果来自系统应用单位、器件研制单位和试验单位等领域内各相关单位，内容涵盖了FPGA辐射效应及损伤机理、抗辐射加固设计、抗辐射性能试验评估等抗辐射加固技术各环节，效应种类覆盖了总剂量、单粒子、瞬时剂量率等辐射效应主要方向。为使更多国内同行了解和参考当前研究成果、扩大研究成果影响，现计划以出书的形式出版该研究专辑。

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书籍详细信息
书名	FPGA抗辐射加固技术站内查询相似图书
	9787502276874 如需购买下载《FPGA抗辐射加固技术》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	中国原子能出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	68.0	语种	简体中文
尺寸	26 × 19	装帧	平装
页数	154	印数	500

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书籍信息归属:

FPGA抗辐射加固技术是中国原子能出版社于2016.11出版的中图分类号为 TL7 的主题关于核防护的书籍。