书籍简介:

本著作研究了数字电路单故障、多故障以及时滞故障测试生成算法，提出了基于神经网络、布尔差分等测试生成算法，实验测试结果表明提出的算法故障覆盖率可达到98％，且故障平均测试生成时间较短，优于传统测试生成算法。

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	9787555314257 如需购买下载《数字集成电路测试生成算法》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	长春	出版单位	吉林教育出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	21.0	语种	简体中文
尺寸	18 × 26	装帧	平装
页数		印数

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数字集成电路测试生成算法是吉林教育出版社于2015.5出版的中图分类号为 TN431.207 的主题关于数字集成电路－测试技术－算法的书籍。