微电子器件封装与测试技术
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微电子器件封装与测试技术

李国良, 刘帆, 编著

出版社:清华大学出版社

年代:2017

定价:32.0

书籍简介:

电子器件封装及检测操作技术,包含微电子器件封装及检测两个部分,以操作技术为目的,图文并茂讲述微电子器件封装及检测操作技术。每个操作环节配二维码链接真实的生产操作视屏。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787302487562
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出版地北京出版单位清华大学出版社
版次1版印次1
定价(元)32.0语种简体中文
尺寸26 × 19装帧平装
页数印数 2000

书籍信息归属:

微电子器件封装与测试技术是清华大学出版社于2018.出版的中图分类号为 TN4 的主题关于 微电子技术-封装工艺 ,微电子技术-测试技术 的书籍。