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本书系统地介绍了结构测试的理论和方法、可测试性设计理论和度量方法、测试数据的处理及简化的理论和方法以及智能芯片测试理论和方法。

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丛书名	电子与电气工程丛书
	9787111192374 《数字系统测试与可测试设计》pdf扫描版电子书已有网友提供资源下载链接,请点击下方按钮查看
出版地	北京	出版单位	机械工业出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	56.0	语种	简体中文
尺寸	26	装帧	平装
页数	455	印数	5000

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数字系统测试与可测试设计是机械工业出版社于2006.09出版的中图分类号为 TP271 的主题关于数字系统－测试的书籍。