出版社:电子工业出版社
年代:2019
定价:99.0
DEM精度研究是DEM研究体系的重要组成部分,其中原始数据精度、插值算法、地貌类型、采样数据分布特征和尺度是影响DEM精度的主要因素之一。DEM插值算法作为其中的直接因素,地貌类型、采样数据分布特征和尺度等因素通过插值算法影响DEM精度。因此,从影响DEM插值精度的不同因素出发,研究DEM插值算法的适应性问题,以降低DEM插值的不确定性、提高插值精度,具有十分重要的意义。本书围绕着DEM插值参数、地貌类型适应性、采样分布特征适应性、尺度适应性等问题展开了DEM插值算法适应性的研究和实践。本书可以作为地图学与地理信息工程(系统)、环境科学与工程、地理学、地质学、作战环境学等地球科学领域的研究生或本科生的辅助教材,也可以作为高等院校测绘科学与技术、遥感科学、地理信息科学等相关领域研究人员的科研参考书。
书籍详细信息 | |||
书名 | DEM插值算法适应性理论与方法站内查询相似图书 | ||
丛书名 | 地球和环境科学分析方法系列丛书 | ||
9787121376177 如需购买下载《DEM插值算法适应性理论与方法》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息,请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN | |||
出版地 | 北京 | 出版单位 | 电子工业出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 99.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 24 × 17 | 装帧 | 精装 |
页数 | 印数 |
DEM插值算法适应性理论与方法是电子工业出版社于2020.1出版的中图分类号为 P208 的主题关于 地理信息系统-空间信息系统-数字高程模型-数值分析-插值法 的书籍。